(1) Свет, излучаемый широкополосным источником с низкой когерентностью (таким как SLED), разделяется на два луча светоделителем (или волоконно-оптическим ответвителем), поступающим в опорное плечо и плечо для отбора проб соответственно.
(2) Свет в эталонном плече отражается зеркалом.
(3) После того, как свет в кронштейне для образца освещает исследуемую ткань или материал, обратно рассеянный свет с различной глубины возвращается.
(4) Два луча рекомбинируются в светоделителе; интерференционный сигнал генерируется только тогда, когда разность оптических путей между двумя плечами попадает в пределы длины когерентности источника света. Такая короткая длина когерентности обеспечивает высокое осевое разрешение системы.
(5) Сканируя положение эталонного зеркала или используя развертку по частоте для получения интерференционных сигналов, система может реконструировать двухмерные или трехмерные томографические изображения образца слой за слоем.
|
Компонент |
Описание функции |
|
СИД-источник света |
Обеспечивает широкополосный свет с низкой когерентностью, служащий основным источником света для системы ОКТ для достижения высокого осевого разрешения; обычно работает в ближнем инфракрасном диапазоне 800–1550 нм. |
|
Оптоволоконный соединитель/сплиттер |
Разделяет источник света на плечо для отбора проб и эталонное плечо и объединяет эхо-сигналы от обоих плеч в детектор. |
|
Зонд |
Фокусирует световой луч на поверхности или внутри образца и собирает обратно отраженные/обратно рассеянные оптические сигналы с разных глубин. |
|
Справочное зеркало |
Обеспечивает стабильный эталонный оптический путь. Он изменяет длину оптического пути эталонного рычага посредством точного осевого сканирования, реализует согласование интерференционного сигнала с отраженным светом от образцов разной глубины и завершает сканирование с разрешением по глубине. |
|
ПД |
Обнаруживает интерференционные оптические сигналы от кронштейна для отбора проб и эталонного рычага. |
|
Система сбора данных (сбор данных) |
Преобразует фотоэлектрические сигналы в цифровые сигналы для обработки и хранения на компьютере в реальном времени. |
|
ПК |
Обрабатывает полученные интерференционные сигналы с помощью таких алгоритмов, как быстрое преобразование Фурье (БПФ), и реконструирует 2D или 3D томографические изображения образца с высоким разрешением. |
Широкополосный источник света SLED 840 нм, 20 мВт
840 нм, 10 мВт, 35 нм, ширина полосы SLD, диод
Источник света SLD 1060 нм 1064 нм
Вопрос 1. Какая длина волны (в нм) широкополосного источника света SLD обычно используется в ОКТ?
A1: Биомедицинская визуализация → 800–1060 нм;
Промышленный контроль/применение оптоволокна → 1300–1550 нм.
Вопрос 2. Требуется ли для широкополосного источника света SLED изолятор?
А2: Для промышленного применения необходимо самостоятельно оценить величину отраженной оптической мощности; если это оправдано, может потребоваться несколько изоляторов.
В3: Имеются ли поставляемые вами источники света SLD со встроенным драйвером?
О3: Да, мы предлагаем модульные решения, объединяющие лазерный чип, схему драйвера и (опционально) оптоволоконный соединитель. Это позволяет осуществлять прямое использование или дальнейшую интеграцию системы без необходимости подключения клиента к внешнему драйверу.
-
